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Optris 高精度系列紅外測(cè)溫儀/ CSlaser G5HF optris CSlaser G5HF型紅外測(cè)溫儀專為用于平板玻璃線、玻璃容器機(jī)、燈泡、汽車玻璃和太陽能電池的溫度測(cè)量。 其標(biāo)準(zhǔn)化的雙線接口提供了可靠的測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸，可將溫度傳感器輕松集成到西門子可編程邏輯控制器中。以便準(zhǔn)確標(biāo)記測(cè)溫點(diǎn)。 各種光學(xué)元件可確保各種產(chǎn)品的高適應(yīng)性。

Optris 高精度系列紅外測(cè)溫儀/ CSlaser 2M optris CSlaser 2M型紅外測(cè)溫儀專為金屬表面的準(zhǔn)確溫度測(cè)量而設(shè)計(jì)。它的短測(cè)量波長不僅可以準(zhǔn)確測(cè)量金屬溫度，還可以用于測(cè)量金屬氧化物和陶瓷的溫度。 紅外測(cè)溫儀配備了創(chuàng)新雙激光瞄準(zhǔn)鏡，可準(zhǔn)確標(biāo)記測(cè)點(diǎn)。各種示波器可確保各種產(chǎn)品的高適應(yīng)性。

Optris 高精度系列紅外測(cè)溫儀/CSlaser hs LT optris CSlaser LT型紅外測(cè)溫儀由堅(jiān)固的不銹鋼傳感器和集成電子元件組成，可輕松集成到系統(tǒng)中。 其創(chuàng)新的雙激光瞄準(zhǔn)器即使在很小的物體上也能準(zhǔn)確的標(biāo)記測(cè)溫點(diǎn)。 各種光學(xué)元件可以適用于廣泛的不同產(chǎn)品。 此外，紅外測(cè)溫儀還提供了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化的雙線接口，能夠可靠地傳輸測(cè)溫?cái)?shù)據(jù)，并可輕松集成到西門子字符串處理系統(tǒng)中。

Optris 高精度系列紅外測(cè)溫儀/CSlaser LT optris CSlaser LT型紅外測(cè)溫儀由堅(jiān)固的不銹鋼傳感器和集成電子元件組成，可輕松集成到系統(tǒng)中。 其創(chuàng)新的雙激光瞄準(zhǔn)器即使在很小的物體上也能準(zhǔn)確的標(biāo)記測(cè)溫點(diǎn)。 各種光學(xué)元件可以適用于廣泛的不同產(chǎn)品。 此外，紅外測(cè)溫儀還提供了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化的雙線接口，能夠可靠地傳輸測(cè)溫?cái)?shù)據(jù)，并可輕松集成到西門子字符串處理系統(tǒng)中。

Optris 高溫測(cè)溫儀/CT P7 由于其特殊的光譜范圍為3.43µm，optris CT P3型高溫測(cè)溫儀非常適合測(cè)量高密塑料薄膜溫度，例如PE，PP和PS。 此款高溫測(cè)溫儀可準(zhǔn)確測(cè)量從50°C到400°C的溫度，其測(cè)頭無須冷卻可耐75°C。其獨(dú)立電子盒廣泛用于其可編程按鈕及其照明LCD顯示屏。

Optris 高溫測(cè)溫儀/CT G5 由于其特殊的光譜范圍為3.43µm，optris CT P3型高溫測(cè)溫儀非常適合測(cè)量高密塑料薄膜溫度，例如PE，PP和PS。 此款高溫測(cè)溫儀可準(zhǔn)確測(cè)量從50°C到400°C的溫度，其測(cè)頭無須冷卻可耐75°C。其獨(dú)立電子盒廣泛用于其可編程按鈕及其照明LCD顯示屏。

Optris 高溫測(cè)溫儀/CT G5 由于其5.0 µm的特殊光譜范圍，optris CT G5型高溫測(cè)溫儀非常適用于玻璃溫度的測(cè)量，例如：玻璃容器生產(chǎn)線、汽車玻璃生產(chǎn)或太陽能電池生產(chǎn)

Optris 高溫測(cè)溫儀/CT 4M 僅90μs的快速曝光時(shí)間使高速紅外測(cè)溫儀CT 4M成為測(cè)量快速過程的理想傳感器。由于其較短的測(cè)量波長和0°C至500°C的溫度范圍，optris CT 4M高溫計(jì)適用于測(cè)量金屬、金屬氧化物、陶瓷或發(fā)射率未知或變化的材料。

Optris 高溫測(cè)溫儀/CT 3M 由于其測(cè)量波長短和50°C的溫度量程，optris CT 3M型高溫測(cè)溫儀非常適用于金屬和復(fù)合材料的低溫測(cè)量。只有1 ms的快速響應(yīng)時(shí)間可以在快速過程中使用金屬測(cè)溫計(jì)。

Optris 高溫測(cè)溫儀/CT 1M / 2M 由于其短測(cè)量波長和高達(dá)2200℃的高溫范圍，optris CT 1M和2M高溫測(cè)溫儀適用于金屬、金屬氧化物和陶瓷的高溫測(cè)量。紅外高溫測(cè)溫儀的短測(cè)量波長還會(huì)降低低水平或改變發(fā)射水平時(shí)導(dǎo)致的測(cè)量誤差。